The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Dr. Daniel J. D. Sullivan
attended Cal & U. C. San Diego. Managed: FA, Reliability and Materials labs. Currently in sales and marketing at EAG labs. He has also written a non-technical book, "Don't Date Crazy" by DJDS, and published a board game called Infection.
Dr. Eric J. Carleton
is a technology developer and consultant who has incubated multiple technology startups, founded Arrhenius, a failure analysis firm, and serves clients in a wide array of industries on scientific analysis and litigation matters.
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Etat : New. N° de réf. du vendeur 44877330-n
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : Rarewaves USA, OSWEGO, IL, Etats-Unis
Paperback. Etat : New. The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies. N° de réf. du vendeur LU-9781501524783
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 44877330
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
PAP. Etat : New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur L0-9781501524783
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Paperback. Etat : Brand New. 150 pages. 9.45x6.69x0.43 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur __150152478X
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Etat : New. N° de réf. du vendeur 44877330-n
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 44877330
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
PF. Etat : New. N° de réf. du vendeur 6666-IUK-9781501524783
Quantité disponible : 10 disponible(s)
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies. 130 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781501524783
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Etat : New. N° de réf. du vendeur 401279870
Quantité disponible : 3 disponible(s)