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Synopsis
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
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À propos de l?auteur
Dr. Daniel J. D. Sullivan
attended Cal & U. C. San Diego. Managed: FA, Reliability and Materials labs. Currently in sales and marketing at EAG labs. He has also written a non-technical book, "Don't Date Crazy" by DJDS, and published a board game called Infection.
Dr. Eric J. Carleton
is a technology developer and consultant who has incubated multiple technology startups, founded Arrhenius, a failure analysis firm, and serves clients in a wide array of industries on scientific analysis and litigation matters.
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Failure Analysis
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Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM)
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Failure Analysis : High Technology Devices
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Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM)
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Failure Analysis : High Technology Devices
Edité par
De Gruyter, 2022
ISBN 10 : 150152478X
ISBN 13 : 9781501524783
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Failure Analysis: High Technology Devices
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