Reliability and Materials Issues of III–V and II–VI Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II: Volume 1432 - Couverture rigide

9781605114095: Reliability and Materials Issues of III–V and II–VI Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II: Volume 1432

Couverture rigide

ISBN 10 : 160511409X ISBN 13 : 9781605114095

Editeur : Materials Research Society, 2012

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�diteur: Materials Research Society
Date d'�dition: 2012
Langue: anglais
ISBN 10: 160511409X
ISBN 13: 9781605114095
Reliure: Reli�
Nombre de pages: 195
�diteur: Ueda Osamu, Fukuda Mitsuo, Shiojima Kenji, Piner Edward
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: Groupe Hamelin
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H�rouville-Saint-Clair
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Reliability and Materials Issues of III?V and II?VI Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II

Edwin Piner Kenji Shiojima Mitsuo Fukuda

Edit� par Materials Research Society, 2012

ISBN 10 : 160511409X ISBN 13 : 9781605114095

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Reliability and Materials Issues of III?V and II?VI Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II

Piner Edwin Shiojima Kenji Fukuda Mitsuo

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ISBN 10 : 160511409X ISBN 13 : 9781605114095

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Reliability And Materials Issues Of Iii�"V And Ii�"Vi Semiconductor Optical And Electron Devices And Materials Ii

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RELIABILITY AND MATERIALS ISSUES OF III�"V AND II�"VI SEMICONDUCTOR OPTICAL AND ELECTRON DEVICES AND MATERIALS II

OSAMU UEDA, KANAZAWA INSTITUTE OF TECHNOLOGYMITSUO FUKUDA, TOYOHASHI UNIVERSITY OF TECHNOLOGYKENJI SHIOJIMA, FUKUI UNIVERSITY, JAPANEDWIN PINER, TEXAS STATE UNIVERSITY, SAN MARCOS DIV CLASS="CONTRIBUTORSPEOPLE">DIV CLASS="CONTRIBUTORSPEOPLEHIDDEN">S. KAMIYA, K. TAKAKI, S. IMAI, J. YOSHIDA, M. FUNABASHI, Y. KAWAKITA, K. HIRAIWA, T. SUZUKI, H. SHIMIZU, N. TSUKIJI, T. ISHIKAWA, A. KASUKAWA, ROBERT W. HERRICK, J. ANAYA, A. MARTIN-MARTIN, J. SOUTO, P. IñIGUEZ, J. JIMENEZ, TAKUMA FUYUKI, SHOTA KASHIY

Edit� par Materials Research Society, 2012

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Piner Edwin Shiojima Kenji Fukuda Mitsuo Ueda Osamu

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Reliability and Materials Issues of IIIV and IIVI Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II: Volume 1432 (MRS Proceedings)

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