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Synopsis
Here is a practical introduction to the subject of modern test engineering and concepts for analogue, digital and mixed-signal integrated circuits and systems. Equipped with worked examples based on the theoretical material, practical experimentation and simulation exercises, it enables readers to build their own PC based tester arrangement to investigate key aspects of testing for analogue, digital and mixed-signal circuits. The tester hardware, software and experiments are supplied by download from springeronline.com. The experiments are based on a small electronic hardware test arrangement connected to a PC. Software to drive the experiment in terms of Visual Basic programs will be provided. The book introduce test engineering concepts from three angles: fomr a traditional test perspective, from a design perspective, and from a manufacturing/fabrication perspective.
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À propos de l?auteur
Doctor Ian Grout is a lecturer within the Department of Electronic and Computer Engineering at the University of Limerick. His research interests include microelectronic circuit design, control systems applications, design for test (digital and mixed-signal), test technology, CAD tool development and interfacing. He currently teaches microelectronic circuit design for electronic engineering students and test engineering for the final year electronic systems and VLSI Masters students. He is also the course leader for the Electronic Systems undergraduate programme within the university.
Doctor Grout has previously held positions with the UK Ministry of Defence and Defence Research Agency. He is currently the chair of the Educational ECAD (Electronic Computer Aided Design) User Group, UK, http: //www.eeug.org.uk.
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- ÉditeurSpringer London
- Date d'édition2010
- ISBN 10 1846280230
- ISBN 13 9781846280238
- ReliureBroché
- Langueanglais
- Nombre de pages392
- Coordonnées du fabricantnon disponible
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Edité par
Springer Verlag, NY, 2006
ISBN 10 : 1846280230
ISBN 13 : 9781846280238
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Integrated Circuit Test Engineering
Edité par
Springer London Aug 2005, 2005
ISBN 10 : 1846280230
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Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques
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