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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - Couverture rigide

 
9781846289125: Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Synopsis

The applications of image-based measurement are many and various: image-guided surgery, mobile-robot navigation, component alignment and photogrammetry, among others.

This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér-Rao Lower Bound (CRLB).

This monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing; detailed theoretical treatment of the CRLB; a software tool for analyzing the potential performance-specific camera/lens/algorithm configurations; two novel algorithms which achieve precision very close to the CRLB; a method for determining the accuracy of landmark location; a downloadable MATLAB(R) package to assist the reader with applying theoretically-derived results to practical engineering configurations.

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À propos de l?auteur

José A. Gutiérrez is Principal Engineer at the Innovation Center of Eaton Corporation, leading the technical activities in Wireless Sensor Networks. He received the B.S. degree in electronic engineering from Universidad Simon Bolivar in Caracas, Venezuela, in 1991, and the M.S. in electrical engineering from the University of Wisconsin - Milwaukee in 2001. Currently he is a Ph.D. candidate at the same institution. Mr. Gutiérrez is an active member of the IEEE LAN/MAN Standards Committee and Editor in-Chief of the IEEE 802.15 Working Group, Task Group 4, focused in the development of Low-Rate Wireless Personal Area Networks. His areas of expertise include control systems, wireless communication, networking, information theory, bioelectronics, and standards development. He has two patents filed and is author of several papers in the areas of automatic control, artificial intelligence, and wireless communications.

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9781849966740: Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Edition présentée

ISBN 10 :  1849966745 ISBN 13 :  9781849966740
Editeur : Springer, 2010
Couverture souple

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Gutierrez, José A./Armstrong, Brian S.R.
Edité par London, Springer London., 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
Ancien ou d'occasion Couverture rigide

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2008. 16 x 24 cm. XI, 162 S. XI, 162 p. With online files/update. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. N° de réf. du vendeur 97ZB

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GUTIERREZ,J.A., ARMSTRONG,B.S.R.
Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Gutierrez, José A.; Armstrong, Brian S.R.
Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Brian S.R. Armstrong Jos? A. Gutierrez
Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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José A. Gutierrez|Brian S.R. Armstrong
Edité par Springer London, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

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Armstrong Brian S.R. Gutierrez Jos? A.
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ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni

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Armstrong Brian S.R. Gutierrez Jos? A.
Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne

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Brian S. R. Armstrong
Edité par Springer London Okt 2007, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér-Rao Lower Bound (CRLB).The monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing; detailed theoretical treatment of the CRLB, and more. 176 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781846289125

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Gutierrez, José A.; Armstrong, Brian S.R.
Edité par Springer, 2007
ISBN 10 : 1846289122 ISBN 13 : 9781846289125
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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