Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies - Couverture souple

Canelas, Ant�nio Manuel Louren�o ; Guilherme, Jorge Manuel Correia ; Horta, Nuno Cavaco Gomes

Couverture souple

ISBN 10 : 3030415376 ISBN 13 : 9783030415372

Editeur : Springer, 2020

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1. Introduction

2. Analog IC Sizing Background

3. Yield Estimation Techniques Related Work

4. Monte Carlo-Based Yield Estimation New Methodology

5. AIDA-C Variation-Aware Circuit Synthesis Tool

6. Tests & Results

7. Conclusion and Future Work

Index

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�diteur: Springer
Date d'�dition: 2020
Langue: anglais
ISBN 10: 3030415376
ISBN 13: 9783030415372
Reliure: Taschenbuch
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

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