Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Couverture souple

Livre 92 sur 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao; Xu, Qiang

 
9783319005348: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Couverture souple
ISBN 10 : 3319005340 ISBN 13 : 9783319005348
Editeur : Springer, 2013

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Synopsis

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2013
Langue
anglais
ISBN 10 
3319005340
ISBN 13 
9783319005348
Reliure
Paperback
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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Edition présentée

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Editeur : Springer International Publishin..., 2013
Couverture rigide