Synopsis
Introduction.- 3D Force-Field Spectroscopy.- Simultaneous NC-AFM/STM Measurements of Atomic-Sized Contacts.- Spectroscopy and Manipulation Using AFM/STM at Room Temperature.- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy.- Non-Contact Friction.- Magnetic Exchange Force Spectroscopy.- Revealing Subsurface Vibrational Modes by Atom-Resolved Damping Force Spectroscopy.- Interaction and Self-Assembly of Organic Molecules on Insulating Surfaces.- NC-AFM Experiments on Molecular Systems.- Single-Molecule Force Spectroscopy.- Submolecular Resolution and Tip Functionalization.- Mapping the Force-Fields of Intra- and Intermolecular Bonds.- Single-Molecule Force-Sensor Assisted Scanning Tunneling Microscopy.- Nanostructured Surfaces of Doped Alkali Halides.- The Atomic Structure of Two-Dimensional Silica.- NC-AFM Imaging of Molecules at Surfaces of Bulk Insulators.- Simulating NC-AFM of Complex Systems.- Recent Progress in Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Subnanometer-Resolution FM-AFM Imaging at Solid/Liquid Interfaces.- High Spatial-Resolution AFM Studies of Electrochemical Interfaces.- High-Speed Atomic Force Microscopic Observation of Motor Proteins.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Autres éditions populaires du même titre
Résultats de recherche pour Noncontact Atomic Force Microscopy
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur 9b24d419e91b57fa68a24c2e74c80343
Acheter neuf
EUR 166,29
Expédition à EUR 55
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Noncontact Atomic Force Microscopy 03
Edité par
Springer International Publishing, 2015
ISBN 10 : 3319155873
ISBN 13 : 9783319155876
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 31554933
Acheter neuf
EUR 180,07
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Noncontact Atomic Force Microscopy
Edité par
Springer International Publishing Jun 2015, 2015
ISBN 10 : 3319155873
ISBN 13 : 9783319155876
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology. 552 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319155876
Acheter neuf
EUR 213,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9783319155876_new
Acheter neuf
EUR 228,60
Expédition à EUR 14,07
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. 500. N° de réf. du vendeur 26372182859
Acheter neuf
EUR 265,64
Expédition à EUR 3,50
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Noncontact Atomic Force Microscopy
Edité par
Springer, Palgrave Macmillan Jun 2015, 2015
ISBN 10 : 3319155873
ISBN 13 : 9783319155876
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 552 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319155876
Acheter neuf
EUR 213,99
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 3
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology. N° de réf. du vendeur 9783319155876
Acheter neuf
EUR 219,37
Expédition à EUR 64,93
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
impression à la demandeVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. Print on Demand 500. N° de réf. du vendeur 374911124
Acheter neuf
EUR 281,98
Expédition à EUR 7,63
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
impression à la demandeVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. PRINT ON DEMAND 500. N° de réf. du vendeur 18372182849
Acheter neuf
EUR 283,42
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Brand New. reprint edition. 552 pages. 9.25x6.25x1.25 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3319155873
Acheter neuf
EUR 311,55
Expédition à EUR 17,61
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)