Synopsis
Provides comprehensive textbook on reliability physics of semiconductors, from fundamentals to applications
Explains the fundamentals of reliability physics and engineering tools for building better products
Contains statistical training and tools within the text
Includes new chapters on Physics of Degradation, and Resonance and Resonance-Induced Degradation.
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À propos de l?auteur
J.W. McPherson is recognized internationally as an expert in Reliability Physics & Engineering. He has published over 200 papers on reliability, authored the Reliability Chapters for 4 Books, awarded 15 patents, and holds the title of Texas Instruments Senior Fellow Emeritus. He was the 1995 General Chairman of the IEEE International Reliability Physics Symposium and still serves on its Board of Directors. In 2004, Joe received the IEEE Engineer of the Year Award from the Texas Society of Professional Engineers. In 2006, he was the Chairman of the International Sematech Reliability Council. Joe is an IEEE Fellow and the Founder/CEO of McPherson Reliability Consulting, LLC. His semiconductor reliability expertise includes device-physics, design-in reliability, wafer-fabrication and assembly-related reliability issues. Several of the reliability models that are used today in the semiconductor industry are closely associated with his name.
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Reliability Physics and Engineering
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ISBN 10 : 3319936824
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Reliability Physics and Engineering
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Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling (NEW!!)
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Etat : Very Good. [ No Hassle 30 Day Returns ][ Ships Daily ] [ Underlining/Highlighting: NONE ] [ Writing: NONE ] [ Edition: Third ] Publisher: Springer Pub Date: 12/20/2018 Binding: Hardcover Pages: 463 Third edition. N° de réf. du vendeur 6589052
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Reliability Physics and Engineering : Time-to-failure Modeling
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Reliability Physics and Engineering : Time-to-failure Modeling
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Reliability Physics and Engineering (Hardcover)
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Hardcover. Etat : new. Hardcover. This third edition textbook provides the basics of reliability physics and engineering that are needed by electrical engineers, mechanical engineers, civil engineers, biomedical engineers, materials scientists, and applied physicists to help them to build better devices/products. The information contained within should help all fields of engineering to develop better methodologies for: more reliable product designs, more reliable materials selections, and more reliable manufacturing processes all of which should help to improve product reliability. A mathematics level through differential equations is needed. Also, a familiarity with the use of excel spreadsheets is assumed. Any needed statistical training and tools are contained within the text. While device failure is a statistical process (thus making statistics important), the emphasis of this book is clearly on the physics of failure and developing the reliability engineering tools required for product improvements during device-design and device-fabrication phases. This third edition textbook provides the basics of reliability physics and engineering that are needed by electrical engineers, mechanical engineers, civil engineers, biomedical engineers, materials scientists, and applied physicists to help them to build better devices/products. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9783319936826
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