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Synopsis
This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
Edité par
Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Vendeur : Book House in Dinkytown, IOBA, Minneapolis, MN, Etats-Unis
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Hardcover. Etat : Near Fine. First Edition. Hardcover book in near fine condition, from a private collection. First Printing with full number line. 338 figures, including 6 in color. Text clean, pages crisp. Exterior looks great. Binding is tight, sturdy, and square. Ships same or next business day from Dinkytown in Minneapolis, Minnesota. Due to the size/weight of this book extra charges may apply for international shipping. N° de réf. du vendeur 329330
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
Edité par
Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Etat : Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions. N° de réf. du vendeur Z1-C-088-07340
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Applied Scanning Probe Methods I.
Edité par
Berlin, Springer., 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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338 figs., XX, 476 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. NanoScience and Technology. Sprache: Englisch. N° de réf. du vendeur 1809HB
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
Edité par
Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Vendeur : Ammareal, Morangis, France
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Hardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2004. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2004. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. N° de réf. du vendeur G-454-668
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Applied Scanning Probe Methods
Edité par
Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Etat : Very Good. 8vo pp. 496, "Examining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, Applied Scanning Probe Methods offers a timely and comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. First it lays the theoretical background of? book. N° de réf. du vendeur 265190
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Applied Scanning Probe Methods I
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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Applied Scanning Probe Methods I
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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Applied Scanning Probe Methods I
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
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Applied Scanning Probe Methods
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