Synopsis
This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
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Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
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Springer, 2004
ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Applied Scanning Probe Methods I.
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ISBN 10 : 3540005277
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Applied Scanning Probe Methods
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ISBN 10 : 3540005277
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Etat : Very Good. 8vo pp. 496, "Examining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, Applied Scanning Probe Methods offers a timely and comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. First it lays the theoretical background of? book. N° de réf. du vendeur 265190
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Applied Scanning Probe Methods I
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ISBN 10 : 3540005277
ISBN 13 : 9783540005278
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 500 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book. N° de réf. du vendeur 1146595/12
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Applied Scanning Probe Methods I
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Applied Scanning Probe Methods I
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
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Applied Scanning Probe Methods I
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Springer Berlin Heidelberg, 2004
ISBN 10 : 3540005277
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