Infrared Ellipsometry On Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, And Polaritons - Couverture rigide
Livre 109 sur 227: Springer Tracts in Modern Physics
Synopsis
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects.
A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.
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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures. Phonons, Plasmons, and Polaritons.
Edité par
Berlin, Springer., 2004
ISBN 10 : 3540232494
ISBN 13 : 9783540232490
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics, 209)
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
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Etat : New. Describes a powerful new method for investigating semiconductor layer structuresAuthor is a leading expert in the fieldThe study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spe. N° de réf. du vendeur 4885851
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons
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Buch. Etat : Neu. Neuware - The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed. N° de réf. du vendeur 9783540232490
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