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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Couverture rigide
- ÉditeurSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
- Date d'édition2005
- ISBN 10 3540253033
- ISBN 13 9783540253037
- ReliureRelié
- Langueanglais
- Nombre de pages492
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
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Springer, 2005
ISBN 10 : 3540253033
ISBN 13 : 9783540253037
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Lifetime Spectroscopy : A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications (springer Series In Materials Science)
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Lifetime Spectroscopy : A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications (springer Series In Materials Science)
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Lifetime Spectroscopy
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
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Lifetime Spectroscopy
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy. 520 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540253037
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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy. N° de réf. du vendeur 9783540253037
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