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Synopsis
Systematizes the experience and research in exploiting various gettering techniques in microelectronics and nanoelectronics. This book describes contemporary trends in gettering technologies from an international perspective. It also discusses the types and properties of structural defects in semiconductors.
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Gettering Defects in Semiconductors
Edité par
Springer, New York, NY, 2005
ISBN 10 : 354026244X
ISBN 13 : 9783540262442
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Vendeur : Book Bear, West Brookfield, MA, Etats-Unis
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Gettering Defects in Semiconductors
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Springer, New York, NY, 2005
ISBN 10 : 354026244X
ISBN 13 : 9783540262442
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Vendeur : Montana Book Company, Fond du Lac, WI, Etats-Unis
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Hardcover. Etat : Near Fine. 388 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text free of markings. No ownership markings. Published without dust jacket. Book still in original shrink wrap. A near fine to fine copy. N° de réf. du vendeur 095460
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Gettering Defects in Semiconductors
Edité par
Springer, 2005
ISBN 10 : 354026244X
ISBN 13 : 9783540262442
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Vendeur : Tilly's Bookshop (Eleven30 Group Ltd), Warrington, MER, Royaume-Uni
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Edition internationale
GETTERING DEFECTS IN SEMICONDUCTORS (HB)
Edition internationaleVendeur : UK BOOKS STORE, London, LONDO, Royaume-Uni
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