Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 and Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings - Couverture souple

9783540372363: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 and Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

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ISBN 10 : 3540372369 ISBN 13 : 9783540372363

Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 2006

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This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.

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�diteur: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Date d'�dition: 2006
Langue: anglais
ISBN 10: 3540372369
ISBN 13: 9783540372363
Reliure: Broch�
Nombre de pages: 939
�diteur: Yeung Dit-Yan, Kwok James T., Fred Ana, Roli Fabio, De Ridder Dick
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August . (Lecture Notes in Computer Science)

Yeung, Dit-Yan [Editor]; Kwok, James T. [Editor]; Fred, Ana [Editor]; Roli, Fabio [Editor]; de Ridder, Dick [Editor];

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