Synopsis
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i. e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
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Springer, 2002
ISBN 10 : 3540431179
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book is a top state-of-the-art report on all the methods in noncontact atomic force microscopy prepared by the leading experts in the fieldSince 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanome. N° de réf. du vendeur 4890255
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of acantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues. 460 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540431176
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 460 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540431176
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of acantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues. N° de réf. du vendeur 9783540431176
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