Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination - Couverture rigide

Livre 83 sur 227: Springer Tracts in Modern Physics

Waseda, Yoshio

 
9783540434436: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination

Synopsis

A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.

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9783662146378: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination

Edition présentée

ISBN 10 :  3662146371 ISBN 13 :  9783662146378
Editeur : Springer, 2013
Couverture souple