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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination - Couverture rigide
Livre 83 sur 227: Springer Tracts in Modern Physics
Synopsis
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
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Anomalous x-ray scattering for materials characterization. Atomic scale structure determination.
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Berlin, Springer, 2002
ISBN 10 : 3540434437
ISBN 13 : 9783540434436
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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Springer Berlin Heidelberg, 2002
ISBN 10 : 3540434437
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book is the first one on anomalous X-ray scatteringThis book is the first one on anomalous X-ray scatteringIncludes supplementary material: sn.pub/extrasThe production of multi layered thin films with sufficient reliability is a k. N° de réf. du vendeur 4890458
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics (179))
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