X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons - Couverture rigide

Drits, Victor A.

 
9783540512226: X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Couverture rigide
ISBN 10 : 3540512225 ISBN 13 : 9783540512226
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 1990

Synopsis

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.

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Éditeur
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Date d'édition
1990
Langue
anglais
ISBN 10 
3540512225
ISBN 13 
9783540512226
Reliure
Relié
Nombre de pages
388
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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