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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers - Couverture rigide

 
9783540620297: High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers

Synopsis

This critical overview presents experimental methods for solving most frequent structural problems of mono-crystalline thin films and layered systems, including thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties. A unified theoretical approach based on kinematical and dynamical scattering theories describes the experimental methods. This book is intended as a reference for experimentalists who want to improve their knowledge on modern X-ray methods for thin film analysis.

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Holy, Vaclav
ISBN 10 : 354062029X ISBN 13 : 9783540620297
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Vaclav Holy; Tilo Baumbach
Edité par Berlin, Springer, 1999
ISBN 10 : 354062029X ISBN 13 : 9783540620297
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Holy, Vaclav, Pietsch, Ullrich, Baumbach, Tilo
Edité par Springer, 1998
ISBN 10 : 354062029X ISBN 13 : 9783540620297
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