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Synopsis
This critical overview presents experimental methods for solving most frequent structural problems of mono-crystalline thin films and layered systems, including thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties. A unified theoretical approach based on kinematical and dynamical scattering theories describes the experimental methods. This book is intended as a reference for experimentalists who want to improve their knowledge on modern X-ray methods for thin film analysis.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Edité par
Berlin, Springer, 1999
ISBN 10 : 354062029X
ISBN 13 : 9783540620297
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050. N° de réf. du vendeur 2488639
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 354062029X
ISBN 13 : 9783540620297
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Like New. Like New. Ships from Multiple Locations. book. N° de réf. du vendeur ERICA758354062029X5
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