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SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide
Livre 40 sur 160: Springer Series in Optical Sciences
Synopsis
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Springer (edition Second Edition 1998), 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
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Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
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Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy
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Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in sca. N° de réf. du vendeur 458677204
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Etat : Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 706699/3
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Scanning Electron Microscopy
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Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
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ISBN 13 : 9783540639763
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy
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Springer, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 9783540639763
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