Articles liés à SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation...
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide
Synopsis
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Acheter neuf
Afficher cet article
EUR 248,92
EUR 5,94 expédition vers Etats-Unis
Destinations, frais et délaisAutres éditions populaires du même titre
Résultats de recherche pour SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation...
Image d'archives
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45) Second edition
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Very Good. Price has been reduced by 10% until Monday, Oct. 20 (sale item) 2nd edition, 543 pp., hardcover, very good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. N° de réf. du vendeur ZB1331312
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : good. A copy that has been read, remains in good condition. All pages are intact, and the cover is intact. The spine and cover show signs of wear. Pages can include notes and highlighting and show signs of wear, and the copy can include "From the library of" labels or previous owner inscriptions. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item for full refund. Ships via media mail. N° de réf. du vendeur OTV.3540639764.G
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Edité par
Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882. N° de réf. du vendeur 114822
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : BennettBooksLtd, San Diego, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! N° de réf. du vendeur Q-3540639764
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. N° de réf. du vendeur 706699/202
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. N° de réf. du vendeur 706699/3
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Scanning Electron Microscopy
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in sca. N° de réf. du vendeur 458677204
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Scanning Electron Microscopy (Hardcover)
Edité par
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, Berlin, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : new. Hardcover. Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Scanning Electron Microscopy
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Sep 1998, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Scanning Electron Microscopy
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Sep 1998, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Quantité disponible : 2 disponible(s)