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SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide
Synopsis
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Hardcover. Etat : Fine. 2nd Edition. EXCELLENT Unmarked PAGES And BINDING And COVER. Hardback. No dust Jacket, as issued. From the library of a Lawrence Livermore physicist. Approximately 6 X 9 ½. 527 pages. N° de réf. du vendeur 006100
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
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Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882. N° de réf. du vendeur 114822
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optic
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Springer, 1998
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy
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Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764
ISBN 13 : 9783540639763
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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ISBN 10 : 3540639764
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 9783540639763
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