Synopsis
The book is written not only for specialists in positron annihilation but for all scientists, technicians, and students who are interested in defects in semiconductors. It explains in detail the theoretical basics necessary to understand the experimental results presented.
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Positron and Annihilation in Semiconductors
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Positron Annihilation in Semiconductors : Defect Studies
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Positron Annihilation in Semiconductors
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Springer Berlin Heidelberg Jan 1999, 1999
ISBN 10 : 3540643710
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This comprehensive book reports on recent investigations of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. It reviews positron techniques, and describes the application of these techniques to various kinds of defects, such as vacancies, impurity vacancy complexes and dislocations. 400 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540643715
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Positron Annihilation in Semiconductors : Defect Studies
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Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies (Springer Series in Solid-State Sciences, 127)
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Positron Annihilation in Semiconductors
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Springer Berlin Heidelberg, Springer Jan 1999, 1999
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The book is written not only for specialists in positron annihilation but for all scientists, technicians, and students who are interested in defects in semiconductors. It explains in detail the theoretical basics necessary to understand the experimental results presented.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 400 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540643715
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Positron Annihilation in Semiconductors : Defect Studies
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. A comprehensive review is given of the different positron techniques, whose application to various kinds of defects, e.g. vacancies, impurity-vacancy complexes and dislocations, is described. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods. The most prominent results obtained with positrons in practically all important semiconductors are reviewed. A special chapter of the book deals with positron annihilation as a promising tool for many technological purposes. The theoretical background necessary to understand the experimental results is explained in detail. N° de réf. du vendeur 9783540643715
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Positron Annihilation in Semiconductors : Defect Studies
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Springer, 1999
ISBN 10 : 3540643710
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Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies (Springer Series in Solid-State Sciences)
Edité par
Springer, 2003
ISBN 10 : 3540643710
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