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Tensile Testing of Thin Films: Tensile Testing, Digital Image Correlation and Fea Schemes for Tensile Testing of Alumnum Thin Films on Kapton Substrates - Couverture souple
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Tensile Testing of Thin Films : Tensile Testing, Digital Image Correlation and Fea Schemes for Tensile Testing of Alumnum Thin Films on Kapton Substrates
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Tensile Testing of Thin Films (Paperback or Softback)
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VDM Verlag Dr. Mueller E.K. 9/30/2008, 2008
ISBN 10 : 3639084160
ISBN 13 : 9783639084160
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Tensile Testing of Thin Films
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Tensile Testing of Thin Films
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Tensile Testing of Thin Films: Tensile testing, Digital Image Correlation and FEAschemes for Tensile Testing of Aluminum thin films onKapton® substrates
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
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Tensile Testing of Thin Films: Tensile testing, Digital Image Correlation and FEAschemes for Tensile Testing of Aluminum thin films onKapton® substrates
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Tensile Testing of Thin Films : Tensile Testing, Digital Image Correlation and Fea Schemes for Tensile Testing of Alumnum Thin Films on Kapton Substrates
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Tensile Testing of Thin Films
Edité par
VDM Verlag Dr. Müller|VDM Verlag Dr. Müller e.K., 2008
ISBN 10 : 3639084160
ISBN 13 : 9783639084160
Neuf
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Etat : New. The process of implementing thin film technologybrings forth the need for characterization of theirmechanical properties with increasing accuracy.Design and performance parameters for a micro-tensiletest apparatus capable of applying a tensile load ofup to . N° de réf. du vendeur 4955931
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Tensile Testing of Thin Films : Tensile testing, Digital Image Correlation and FEAschemes for Tensile Testing of Aluminum thin films onKapton® substrates
Edité par
VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
ISBN 10 : 3639084160
ISBN 13 : 9783639084160
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware - The process of implementing thin film technologybrings forth the need for characterization of theirmechanical properties with increasing accuracy.Design and performance parameters for a micro-tensiletest apparatus capable of applying a tensile load ofup to 20N with a force and displacement resolution of~1 mN and ±0.3 µm respectively have been presented.The device is well suited for conductingmicro-tensile testing on a variety of specimens withhigh aspect ratios. The apparatus was used to measureYoung's modulus of 1 µm thick Al films deposited onKapton® polyimide substrates. Average value ofE(Aluminum) was found to be around 30±5 GPa. Use ofthe testing scheme employed has been validated usinganalytical and finite element methods. Use of DigitalImage Correlation as a strain measurement tool hasalso been investigated. The device was mounted on anoptical microscope for capturing digital images ofthe specimen undergoing strain. Results show thatcoupled with appropriate software, the method cansignificantly help reduce data collection andanalysis burden. N° de réf. du vendeur 9783639084160
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Tensile Testing of Thin Films : Tensile Testing, Digital Image Correlation and Fea Schemes for Tensile Testing of Alumnum Thin Films on Kapton Substrates
Edité par
VDM Verlag, 2008
ISBN 10 : 3639084160
ISBN 13 : 9783639084160
Ancien ou d'occasion
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