Il existe de nombreuses métriques logicielles différentes découvertes et utilisées pour la prédiction des défauts dans la littérature. Au lieu de traiter autant de mesures, il serait pratique et facile de déterminer l'ensemble des mesures les plus importantes et de nous concentrer davantage sur eux pour prédire les défauts. Dans ce livre, nous utilisons la modélisation bayésienne pour déterminer les relations influentes entre les métriques logicielles et la sensibilité aux défauts. En outre, nous proposons une nouvelle technique de prédiction des défauts qui utilise des outils de détection du plagiat. Nous utilisons la programmation du noyau pour modéliser la relation entre la similarité du code source et la défectuosité et suggérer que la similarité de code source est un bon moyen de prédire à la fois les défauts et le nombre de défauts dans les systèmes logiciels.
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Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - There are lots of different software metrics discovered and used for defect prediction in the literature. Instead of dealing with so many metrics, it would be practical and easy if we could determine the set of metrics that are most important and focus on them more to predict defectiveness. In this book, we use Bayesian modeling to determine the influential relationships among software metrics and defect proneness. Furthermore, we propose a novel technique for defect prediction that uses plagiarism detection tools. We use kernel programming to model the relationship between source code similarity and defectiveness and suggest that source code similarity is a good means of predicting both defectiveness and the number of defects in software systems. N° de réf. du vendeur 9783639703467
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are lots of different software metrics discovered and used for defect prediction in the literature. Instead of dealing with so many metrics, it would be practical and easy if we could determine the set of metrics that are most important and focus on them more to predict defectiveness. In this book, we use Bayesian modeling to determine the influential relationships among software metrics and defect proneness. Furthermore, we propose a novel technique for defect prediction that uses plagiarism detection tools. We use kernel programming to model the relationship between source code similarity and defectiveness and suggest that source code similarity is a good means of predicting both defectiveness and the number of defects in software systems. 168 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783639703467
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Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware -There are lots of different software metrics discovered and used for defect prediction in the literature. Instead of dealing with so many metrics, it would be practical and easy if we could determine the set of metrics that are most important and focus on them more to predict defectiveness. In this book, we use Bayesian modeling to determine the influential relationships among software metrics and defect proneness. Furthermore, we propose a novel technique for defect prediction that uses plagiarism detection tools. We use kernel programming to model the relationship between source code similarity and defectiveness and suggest that source code similarity is a good means of predicting both defectiveness and the number of defects in software systems.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 168 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783639703467
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