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Synopsis
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Scanning Probe Microscopy In Nanoscience And Nanotechnology (nanoscience And Technology)
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Scanning Probe Microscopy In Nanoscience And Nanotechnology (nanoscience And Technology)
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer-Verlag GmbH, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber 956 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642035340
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Gebunden. Etat : New. Scientific reviews on scanning tunneling microscopy and atomic force microscopyIntegrates basic scientific and applicational aspectsWith a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph GerberUseful reference to research. N° de réf. du vendeur 5044027
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
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Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
ISBN 10 : 3642035345
ISBN 13 : 9783642035340
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber. N° de réf. du vendeur 9783642035340
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