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This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.
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Applied Scanning Probe Methods I
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Examining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, Applied Scanning Probe Methods offers a timely and comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. First it lays the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. 500 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642056024
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Applied Scanning Probe Methods I
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book summarizing the state-of-the-art of this techniqueReal industrial applications includedExamining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, Applied Scanning Probe Methods offers a timely an. N° de réf. du vendeur 5044737
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Taschenbuch. Etat : Neu. Applied Scanning Probe Methods I | Bharat Bhushan (u. a.) | Taschenbuch | xx | Englisch | 2010 | Springer-Verlag GmbH | EAN 9783642056024 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 107174669
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Applied Scanning Probe Methods: Vol 1
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Applied Scanning Probe Methods I (NanoScience and Technology)
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