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Powder Diffraction: The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data - Couverture souple

 
9783642066269: Powder Diffraction: The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data
  • ÉditeurSpringer
  • Date d'édition2010
  • ISBN 10 3642066267
  • ISBN 13 9783642066269
  • ReliureBroché
  • Langueanglais
  • Nombre de pages236

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9783540279853: Powder Diffraction: The Rietveld Method And the Two-Stage Method To Determine And Refine Crystal Structures From Powder Diffraction Data

Edition présentée

ISBN 10 :  3540279857 ISBN 13 :  9783540279853
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2005
Couverture rigide

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Will, Georg
Edité par Springer, 2010
ISBN 10 : 3642066267 ISBN 13 : 9783642066269
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Crystal structure analysis from powder diffraction data has attracted considerable and ever growing interest in the last decades. X-ray powder diffraction is best known for phase analysis (Hanawalt files) dating back to the 30s. In the late 60s the inherent potential of powder diffraction for crystallographic problems was realized and scientists developed methods for using powder diffraction data at first only for the refinement of crystal structures. With the development of ever growing computer power profile fitting and pattern decomposition allowed to extract individual intensities from overlapping diffraction peaks opening the way to many other applications, especially to ab initio structure determination. Powder diffraction today is used in X-ray and neutron diffraction, where it is a powerful method in neutron diffraction for the determination of magnetic structures. In the last decade the interest has dramatically improved. There is hardly any field of crystallography where the Rietveld, or full pattern method has not been tried with quantitative phase analysis the most important recent application. 236 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642066269

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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Crystal structure analysis from powder diffraction data has attracted considerable and ever growing interest in the last decades. X-ray powder diffraction is best known for phase analysis (Hanawalt files) dating back to the 30s. In the late 60s the inherent potential of powder diffraction for crystallographic problems was realized and scientists developed methods for using powder diffraction data at first only for the refinement of crystal structures. With the development of ever growing computer power profile fitting and pattern decomposition allowed to extract individual intensities from overlapping diffraction peaks opening the way to many other applications, especially to ab initio structure determination. Powder diffraction today is used in X-ray and neutron diffraction, where it is a powerful method in neutron diffraction for the determination of magnetic structures. In the last decade the interest has dramatically improved. There is hardly any field of crystallography where the Rietveld, or full pattern method has not been tried with quantitative phase analysis the most important recent application. N° de réf. du vendeur 9783642066269

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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. An important relatively new field of application is in texture analysisGeorg Will studied physics and crystallography a the Technische Hochschule Muenchen. In 1961 he moved to the USA, where he worked at the Brook National Laboratory, where in collabo. N° de réf. du vendeur 5045725

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