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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Couverture rigide

Livre 2 sur 30: Springer Series in Surface Sciences
 
9783642225659: Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Couverture rigide
ISBN 10 : 3642225659 ISBN 13 : 9783642225659
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 2011

Synopsis

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.

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Présentation de l'éditeur

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

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Éditeur
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Date d'édition
2011
Langue
anglais
ISBN 10 
3642225659
ISBN 13 
9783642225659
Reliure
Relié
Nombre de pages
348
Éditeur
Sadewasser Sascha, Glatzel Thilo
Coordonnées du fabricant
ProductSafety@springernature.com
ProductSafety@springernature.com

Poststr. 9
Darmstadt
64293
Allemagne