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Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.
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This report on scanning probe microscopy covers the latest in many related topics such as force spectroscopy and mapping with atomic resolution, atomic manipulation, magnetic exchange force microscopy, atomic and molecular imaging in liquids, and much more.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology)
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Most advanced state-of-the-art report on scanning probe microscopyPresents the latest developments in STM and AFMDeals with the various classes of materials studiedA valuable reference work for researchers as well as a study text for. N° de réf. du vendeur 5054145
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology. 420 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642260704
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Noncontact Atomic Force Microscopy | Volume 2
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Taschenbuch. Etat : Neu. Noncontact Atomic Force Microscopy | Volume 2 | Seizo Morita (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2012 | Springer Berlin | EAN 9783642260704 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 106591030
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