Articles liés à Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid...

Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid Flows - Couverture souple

 
9783642267376: Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid Flows

Synopsis

The near-field region within an order of 100 nm from the solid interface is an exciting and crucial arena where many important multiscale transport phenomena are physically characterized, such as flow mixing and drag, heat and mass transfer, near-wall behavior of nanoparticles, binding of bio-molecules, crystallization, surface deposition processes, just naming a few. This monograph presents a number of label-free experimental techniques developed and tested for near-field fluid flow characterization. Namely, these include Total Internal Reflection Microscopy (TIRM), Optical Serial Sectioning Microscopy (OSSM), Surface Plasmon Resonance Microscopy (SPRM), Interference Reflection Contrast Microscopy (IRCM), Thermal Near-Field Anemometry, Scanning Thermal Microscopy (STM), and Micro-Cantilever Near-Field Thermometry. Presentation on each of these is laid out for the working principle, how to implement the system, and its example applications, to promote the readers understanding and knowledge of the specific technique that can be applied for their own research interests.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

À propos de l?auteur

The near-field – the region within 100 nm from a solid interface - is an exciting arena in which several important multi-scale transport phenomena are physically characterized, such as flow mixing and drag, heat and mass transfer, near-wall behavior of nanoparticles, the binding of bio-molecules, crystallization, and surface deposition processes, just to name a few. This book presents a number of microscopicimaging techniques that were implemented and tested for near-field fluidic characterizations. These methods include Total Internal Reflection Microscopy (TIRM), Optical Serial Sectioning Microscopy (OSSM), Confocal Laser Scanning Microscopy (CLSM), Surface Plasmon Resonance Microscopy (SPRM), and Reflection Interference Contrast Microscopy (RICM). The basic principles, specifics of implementation, and example applications of each method are presented in order to promote the reader’s understanding of the techniques, so that these may be applied to their own research interests.

Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Acheter D'occasion

état :  Comme neuf
Unread book in perfect condition...
Afficher cet article
EUR 120,90

Autre devise

EUR 17,07 expédition depuis Etats-Unis vers France

Destinations, frais et délais

Acheter neuf

Afficher cet article
EUR 92,27

Autre devise

EUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers France

Destinations, frais et délais

Autres éditions populaires du même titre

9783642204258: Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid Flows

Edition présentée

ISBN 10 :  3642204252 ISBN 13 :  9783642204258
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2011
Couverture rigide

Résultats de recherche pour Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid...

Image fournie par le vendeur

Kenneth D Kihm
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. N° de réf. du vendeur 5054783

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 92,27
Autre devise
Frais de port : EUR 9,70
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image d'archives

Kihm, Kenneth D
Edité par Springer, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9783642267376_new

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 111,65
Autre devise
Frais de port : EUR 4,59
De Royaume-Uni vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Kenneth D Kihm
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Taschenbuch

Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The near-field region within an order of 100 nm from the solid interface is an exciting and crucial arena where many important multiscale transport phenomena are physically characterized, such as flow mixing and drag, heat and mass transfer, near-wall behavior of nanoparticles, binding of bio-molecules, crystallization, surface deposition processes, just naming a few. This monograph presents a number of label-free experimental techniques developed and tested for near-field fluid flow characterization. Namely, these include Total Internal Reflection Microscopy (TIRM), Optical Serial Sectioning Microscopy (OSSM), Surface Plasmon Resonance Microscopy (SPRM), Interference Reflection Contrast Microscopy (IRCM), Thermal Near-Field Anemometry, Scanning Thermal Microscopy (STM), and Micro-Cantilever Near-Field Thermometry. Presentation on each of these is laid out for the working principle, how to implement the system, and its example applications, to promote the readers understanding and knowledge of the specific technique that can be applied for their own research interests. N° de réf. du vendeur 9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 10,99
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Kenneth D Kihm
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Taschenbuch
impression à la demande

Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The near-field region within an order of 100 nm from the solid interface is an exciting and crucial arena where many important multiscale transport phenomena are physically characterized, such as flow mixing and drag, heat and mass transfer, near-wall behavior of nanoparticles, binding of bio-molecules, crystallization, surface deposition processes, just naming a few. This monograph presents a number of label-free experimental techniques developed and tested for near-field fluid flow characterization. Namely, these include Total Internal Reflection Microscopy (TIRM), Optical Serial Sectioning Microscopy (OSSM), Surface Plasmon Resonance Microscopy (SPRM), Interference Reflection Contrast Microscopy (IRCM), Thermal Near-Field Anemometry, Scanning Thermal Microscopy (STM), and Micro-Cantilever Near-Field Thermometry. Presentation on each of these is laid out for the working principle, how to implement the system, and its example applications, to promote the readers understanding and knowledge of the specific technique that can be applied for their own research interests. 164 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 11
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Kihm, Kenneth D.
Edité par Springer, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. N° de réf. du vendeur 21628732-n

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 101,83
Autre devise
Frais de port : EUR 17,07
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 15 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Kihm, Kenneth D
Edité par Springer, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. SUPER FAST SHIPPING. N° de réf. du vendeur 9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 96,26
Autre devise
Frais de port : EUR 25,60
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Kenneth D Kihm
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Taschenbuch
impression à la demande

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The near-field region within an order of 100 nm from the solid interface is an exciting and crucial arena where many important multiscale transport phenomena are physically characterized, such as flow mixing and drag, heat and mass transfer, near-wall behavior of nanoparticles, binding of bio-molecules, crystallization, surface deposition processes, just naming a few. This monograph presents a number of label-free experimental techniques developed and tested for near-field fluid flow characterization. Namely, these include Total Internal Reflection Microscopy (TIRM), Optical Serial Sectioning Microscopy (OSSM), Surface Plasmon Resonance Microscopy (SPRM), Interference Reflection Contrast Microscopy (IRCM), Thermal Near-Field Anemometry, Scanning Thermal Microscopy (STM), and Micro-Cantilever Near-Field Thermometry. Presentation on each of these is laid out for the working principle, how to implement the system, and its example applications, to promote the readers understanding and knowledge of the specific technique that can be applied for their own research interests.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 164 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 15
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Kihm, Kenneth D.
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. This monograph presents a number of label-free, fully developed and tested experimental techniques for characterizing near-field fluid flow, including total internal reflection microscopy, optical serial sectioning microscopy and thermal near-field anemometry. Series: Experimental Fluid Mechanics. Num Pages: 156 pages, biography. BIC Classification: PHDF; TGMF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 10. Weight in Grams: 260. . 2013. Paperback. . . . . N° de réf. du vendeur V9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 127,30
Autre devise
Frais de port : EUR 3
De Irlande vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 15 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Kihm, Kenneth D
Edité par Springer, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Neuf Couverture souple

Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9783642267376

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 126,67
Autre devise
Frais de port : EUR 6,83
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Kihm, Kenneth D.
Edité par Springer, 2014
ISBN 10 : 3642267378 ISBN 13 : 9783642267376
Ancien ou d'occasion Couverture souple

Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 21628732

Contacter le vendeur

Acheter D'occasion

EUR 120,90
Autre devise
Frais de port : EUR 17,07
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 15 disponible(s)

Ajouter au panier

There are 9 autres exemplaires de ce livre sont disponibles

Afficher tous les résultats pour ce livre