Synopsis
This book examines ellipsometry in nanoscience and nanotechnology. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving the science and technology of nanomaterials and related processes.
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Ellipsometry at the Nanoscale
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J.B. Metzler, 2013
ISBN 10 : 3642339557
ISBN 13 : 9783642339554
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 756 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications. N° de réf. du vendeur 23177003/12
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10 : 3642339557
ISBN 13 : 9783642339554
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides different aspects and opinion on a rapidly evolving fieldReviews recent applications of polarimetric techniques to nanomaterialsWritten by renomed experts in the fieldProvides different aspects and opinion on a rapidly e. N° de réf. du vendeur 5057451
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Springer Berlin Heidelberg Mrz 2013, 2013
ISBN 10 : 3642339557
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications. 756 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642339554
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Springer, 2013
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Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10 : 3642339557
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Ellipsometry at the Nanoscale
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Hardcover. Etat : Brand New. 2013 edition. 754 pages. French language. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3642339557
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