X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons - Couverture souple
Synopsis
New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures (eng)
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures. 392 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642748042
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 392 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783642748042
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