Articles liés à Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization:...
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination - Couverture souple
Livre 83 sur 227: Springer Tracts in Modern Physics
Synopsis
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization:...
Image fournie par le vendeur
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Edité par
Springer Berlin Heidelberg Okt 2013, 2013
ISBN 10 : 3662146371
ISBN 13 : 9783662146378
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called 'bulk amorphous alloys', have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions. 232 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662146378
Acheter neuf
EUR 213,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9783662146378_new
Acheter neuf
EUR 227,37
Expédition à EUR 13,99
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization | Atomic-Scale Structure Determination
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization | Atomic-Scale Structure Determination | Yoshio Waseda | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783662146378 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, 69115 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 105645695
Acheter neuf
EUR 184,95
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10 : 3662146371
ISBN 13 : 9783662146378
Neuf
Couverture souple
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. This book is the first one on anomalous X-ray scatteringThis book is the first one on anomalous X-ray scatteringIncludes supplementary material: sn.pub/extrasThe production of multi layered thin films with sufficient reliability is a k. N° de réf. du vendeur 5222516
Acheter neuf
EUR 227,74
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. pp. 232. N° de réf. du vendeur 26142295758
Acheter neuf
EUR 273,39
Expédition à EUR 3,42
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination
Edité par
Springer, Berlin, Springer, 2013
ISBN 10 : 3662146371
ISBN 13 : 9783662146378
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called 'bulk amorphous alloys', have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions. N° de réf. du vendeur 9783662146378
Acheter neuf
EUR 218,70
Expédition à EUR 61,80
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
impression à la demandeVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. Print on Demand pp. 232 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam. N° de réf. du vendeur 135068945
Acheter neuf
EUR 288,72
Expédition à EUR 7,59
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
impression à la demandeVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 232. N° de réf. du vendeur 18142295748
Acheter neuf
EUR 298,69
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination: 179 (Springer Tracts in Modern Physics)
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Paperback. Etat : Brand New. 232 pages. 9.25x6.10x0.53 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3662146371
Acheter neuf
EUR 297,40
Expédition à EUR 11,68
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics (179))
Edité par
Springer, 2013
ISBN 10 : 3662146371
ISBN 13 : 9783662146378
Ancien ou d'occasion
Paperback
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book. N° de réf. du vendeur ERICA75836621463715
Acheter D'occasion
EUR 333,17
Expédition à EUR 29,19
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)