The book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surfaces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segregation phenomena, electron energy-loss spectroscopy and RHEED with rotating substrates.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surfaces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segregation phenomena, electron energy-loss spectroscopy and RHEED with rotating substrates. 236 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662156148
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Up-to-date review of the state of the artImportant methods for surface and semiconductor physicsThe book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surface. N° de réf. du vendeur 5222967
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surfaces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segregation phenomena, electron energy-loss spectroscopy and RHEED with rotating substrates.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 236 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662156148
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