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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors - Couverture rigide
Livre 100 sur 160: Springer Series in Optical Sciences
Synopsis
Introduction to XAS.- Crystalline Semiconductors.- Disordered Semiconductors.- Nanostructures.- Magnetic Semiconductors.
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors (eng)
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X-ray absorption spectroscopy of semiconductors.
Edité par
Heidelberg, Springer, 2015
ISBN 10 : 3662443619
ISBN 13 : 9783662443613
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Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
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Hardcover. Etat : Gut. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05847 9783662443613 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550. N° de réf. du vendeur 2492110
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Edité par
Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014
ISBN 10 : 3662443619
ISBN 13 : 9783662443613
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. 380 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662443613
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Edité par
Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10 : 3662443619
ISBN 13 : 9783662443613
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a complete survey of the current state of the art of X-ray absorption spectroscopy of semiconductorsProvides an overview of a wide range of semiconductor materialsDisplays comprehensive summaries to allow the reader to access the grow. N° de réf. du vendeur 5227662
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors (Springer Series in Optical Sciences, 190)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Edité par
Springer, Springer Nov 2014, 2014
ISBN 10 : 3662443619
ISBN 13 : 9783662443613
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases.Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society.The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials.Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 380 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662443613
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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Hardcover. Etat : Brand New. 2015 edition. 361 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3662443619
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. N° de réf. du vendeur 9783662443613
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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors (Springer Series in Optical Sciences)
Edité par
Springer, 2014
ISBN 10 : 3662443619
ISBN 13 : 9783662443613
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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