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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - Couverture souple

 
9783662505571: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Synopsis

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

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This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

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9783662452394: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Edition présentée

ISBN 10 :  3662452391 ISBN 13 :  9783662452394
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2015
Couverture rigide

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Bert Voigtländer
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10 : 3662505576 ISBN 13 : 9783662505571
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Edité par Springer, 2016
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field. N° de réf. du vendeur 9783662505571

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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field. 400 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662505571

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Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 400 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662505571

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Edité par Springer Verlag, 2016
ISBN 10 : 3662505576 ISBN 13 : 9783662505571
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni

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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 397 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3662505576

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