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Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years.
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This book provides a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces.
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films (Springer Series in Surface Sciences, 52) [Paperback] Hinrichs, Karsten and Eichhorn, Klaus-Jochen (eng)
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films (Springer Series in Surface Sciences, 52)
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
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Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016
ISBN 10 : 3662510200
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years. 388 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662510209
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films: 52 (Springer Series in Surface Sciences)
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a state of the art report of the technique of ellipsometryPresents recent developments in ellipsometric real-time/in-situ monitoring techniquesIs oriented towards the high technological interest in the characterization of functiona. N° de réf. du vendeur 449137646
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films: 52 (Springer Series in Surface Sciences)
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films: 52 (Springer Series in Surface Sciences)
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
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Taschenbuch. Etat : Neu. Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films | Karsten Hinrichs (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Surface Sciences | xxi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783662510209 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 103493293
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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
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ISBN 10 : 3662510200
ISBN 13 : 9783662510209
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 388 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662510209
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years. N° de réf. du vendeur 9783662510209
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