Articles liés à In-situ Materials Characterization: Across Spatial...

In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales - Couverture souple

 
9783662519769: In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales

Synopsis

The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Présentation de l'éditeur

The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes, and chemical and biological reactions at various time scales.

Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Acheter D'occasion

état :  Comme neuf
Like New
Afficher cet article
EUR 183,91

Autre devise

EUR 28,80 expédition depuis Royaume-Uni vers France

Destinations, frais et délais

Acheter neuf

Afficher cet article
EUR 92,27

Autre devise

EUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers France

Destinations, frais et délais

Autres éditions populaires du même titre

9783642451515: In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales

Edition présentée

ISBN 10 :  3642451519 ISBN 13 :  9783642451515
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2014
Couverture rigide

Résultats de recherche pour In-situ Materials Characterization: Across Spatial...

Image fournie par le vendeur

Ziegler, Alexander|Graafsma, Heinz|Zhang, Xiao Feng|Frenken, Joost W.M.
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple
impression à la demande

Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Scientific status report on analytical techniques in nano-and surface sciencesPresentation of the basics and applications of various surface and thin film analytical -techniques: Scanning Probe Microscopy, X-ray diffraction at synchrotron, Free-El. N° de réf. du vendeur 449138360

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 92,27
Autre devise
Frais de port : EUR 9,70
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Alexander Ziegler
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Taschenbuch

Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction. N° de réf. du vendeur 9783662519769

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 10,99
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Alexander Ziegler
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Taschenbuch
impression à la demande

Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction. 268 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662519769

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 11
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple

Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9783662519769_new

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 115,83
Autre devise
Frais de port : EUR 4,60
De Royaume-Uni vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple

Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. SUPER FAST SHIPPING. N° de réf. du vendeur 9783662519769

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 96,23
Autre devise
Frais de port : EUR 25,59
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Alexander Ziegler
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Taschenbuch

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware -The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 268 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783662519769

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 106,99
Autre devise
Frais de port : EUR 15
De Allemagne vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Ziegler, Alexander (Editor)/ Graafsma, Heinz (Editor)/ Zhang, Xiao Feng (Editor)/ Frenken, Joost W. M. (Editor)
Edité par Springer Verlag, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Paperback

Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 268 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3662519763

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 151,38
Autre devise
Frais de port : EUR 11,52
De Royaume-Uni vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple

Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. N° de réf. du vendeur ABLIING23Mar3113020316468

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 102,39
Autre devise
Frais de port : EUR 64,03
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple

Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. pp. 267. N° de réf. du vendeur 26378358315

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 188,77
Autre devise
Frais de port : EUR 7,68
De Etats-Unis vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 3662519763 ISBN 13 : 9783662519769
Neuf Couverture souple
impression à la demande

Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. Print on Demand pp. 267. N° de réf. du vendeur 385545716

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 192,41
Autre devise
Frais de port : EUR 10,19
De Royaume-Uni vers France
Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

There are 2 autres exemplaires de ce livre sont disponibles

Afficher tous les résultats pour ce livre