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Synopsis
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
ISBN 10 : 3731514028
ISBN 13 : 9783731514022
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces. 210 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783731514022
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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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Karlsruher Institut Für Technologie, 2025
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Karlsruher Institut für Technologie, 2025
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Taschenbuch. Etat : Neu. Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces | Chia-Wei Chen | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Karlsruher Institut für Technologie | EAN 9783731514022 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 132575985
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