Automated Phase Plate Application In Transmission Electron Microscopy

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Marco Oster

Edit� par Cuvillier Jun 2017, 2017

ISBN 10 : 3736995628 ISBN 13 : 9783736995628

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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Transmission electron microscopy is an essential tool to determine the structure of biological and material-science samples. A majority of the studied specimen are phase objects, i.e. they impose a small distortion on the phase on the traversing electron wave. To visualize this signal, conventional transmission electron microscopy needs to apply intended lens aberrations, which results in distorted images. Phase plate microscopy offers an alternative possibility to generate phase contrast without relying on the lens aberrations. However, the delicate alignment of the phase plates and their quick degeneration prevent their routine application. In this work, approaches for automating the phase plate alignment are developed. To further improve the applicability, different means to reduce the so-called cut-on effect are evaluated. For that, the characteristics of a prototype instrument especially constructed to solve the cut-on problem are assessed and the properties of a new dynamic imaging mode examined in a theoretical study and by simulation. The applicability of the approach is demonstrated on beam-sensitive samples using the developed automation routines. Die Transmissionselektronenmikroskopie dient als essentielles Werkzeug der Strukturaufkl�rung biologischer und materialwissenschaftlicher Systeme. Ein Gro�teil der dort untersuchten Proben sind Phasenobjekte, d.h. ihre Interaktion mit der durchlaufenden Elektronenwelle bewirkt eine Phasen�nderung selbiger. Zur Sichtbarmachung dieses Signals werden in der konventionellen Transmissionselektronenmikroskopie Linsenaberrationen benutzt, wobei das entstehende Bild von entsprechenden Abbildungsfehlern behaftet ist. Phasenplattenmikroskopie bietet eine alternative M�glichkeit der Kontrasterzeugung, ohne dabei Linsenaberrationen zu ben�tigen. Jedoch verhindern sowohl die zur Anwendung notwendigen diffizilen Bedientechniken, als auch die gro�e Empfindlichkeit heutzutage verf�gbarer Phasenplattensysteme bisher einen routinem��igen Einsatz. In dieser Arbeit werden M�glichkeiten einer automatisierten Anwendung von Phasenplatten erarbeitet und deren Einsatzf�higkeit evaluiert. Der Fokus liegt hierbei auf der Begrenzung des sogenannten cut-on Effekts, welcher die Phasenkontrast�bertragung f�r kleine Ortsfrequenzen limitiert. Dazu werden zum einen die Eigenschaften eines eigens zur Behebung dieses Problems konstruierten Prototypenger�ts evaluiert, und zum anderen die Merkmale eines neuen, bisher nicht detailliert beschriebenen Abbildungsmodus theoretisch erarbeitet und seine praktische Anwendung auf strahlungsempfindlichen Proben unter Zuhilfenahme der entwickelten Automatisierungstechniken demonstriert. 208 pp. Deutsch. N� de r�f. du vendeur 9783736995628

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Oster, Marco

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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnTransmission electron microscopy is an essential tool to determine the structure of biological and material-science samples. A majority of the studied specimen are phase objects, i.e. they impose a small distortion on the phase on. N� de r�f. du vendeur 166461463

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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Transmission electron microscopy is an essential tool to determine the structure of biological and material-science samples. A majority of the studied specimen are phase objects, i.e. they impose a small distortion on the phase on the traversing electron wave. To visualize this signal, conventional transmission electron microscopy needs to apply intended lens aberrations, which results in distorted images.Phase plate microscopy offers an alternative possibility to generate phase contrast without relying on the lens aberrations. However, the delicate alignment of the phase plates and their quick degeneration prevent their routine application.In this work, approaches for automating the phase plate alignment are developed. To further improve the applicability, different means to reduce the so-called cut-on effect are evaluated. For that, the characteristics of a prototype instrument especially constructed to solve the cut-on problem are assessed and the properties of a new dynamic imaging mode examined in a theoretical study and by simulation.The applicability of the approach is demonstrated on beam-sensitive samples using the developed automation routines.Die Transmissionselektronenmikroskopie dient als essentielles Werkzeug der Strukturaufkl�rung biologischer und materialwissenschaftlicher Systeme. Ein Gro�teil der dort untersuchten Proben sind Phasenobjekte, d.h. ihre Interaktion mit der durchlaufenden Elektronenwelle bewirkt eine Phasen�nderung selbiger. Zur Sichtbarmachung dieses Signals werden in der konventionellen Transmissionselektronenmikroskopie Linsenaberrationen benutzt, wobei das entstehende Bild von entsprechenden Abbildungsfehlern behaftet ist.Phasenplattenmikroskopie bietet eine alternative M�glichkeit der Kontrasterzeugung, ohne dabei Linsenaberrationen zu ben�tigen. Jedoch verhindern sowohl die zur Anwendung notwendigen diffizilen Bedientechniken, als auch die gro�e Empfindlichkeit heutzutage verf�gbarer Phasenplattensysteme bisher einen routinem��igen Einsatz.In dieser Arbeit werden M�glichkeiten einer automatisierten Anwendung von Phasenplatten erarbeitet und deren Einsatzf�higkeit evaluiert. Der Fokus liegt hierbei auf der Begrenzung des sogenannten cut-on Effekts, welcher die Phasenkontrast�bertragung f�r kleine Ortsfrequenzen limitiert. Dazu werden zum einen die Eigenschaften eines eigens zur Behebung dieses Problems konstruierten Prototypenger�ts evaluiert, und zum anderen die Merkmale eines neuen, bisher nicht detailliert beschriebenen Abbildungsmodus theoretisch erarbeitet und seine praktische Anwendung auf strahlungsempfindlichen Proben unter Zuhilfenahme der entwickelten Automatisierungstechniken demonstriert.Cuvillier Verlag, Nonnenstieg 8, 37075 G�ttingen 208 pp. Deutsch. N� de r�f. du vendeur 9783736995628

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Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Transmission electron microscopy is an essential tool to determine the structure of biological and material-science samples. A majority of the studied specimen are phase objects, i.e. they impose a small distortion on the phase on the traversing electron wave. To visualize this signal, conventional transmission electron microscopy needs to apply intended lens aberrations, which results in distorted images. Phase plate microscopy offers an alternative possibility to generate phase contrast without relying on the lens aberrations. However, the delicate alignment of the phase plates and their quick degeneration prevent their routine application. In this work, approaches for automating the phase plate alignment are developed. To further improve the applicability, different means to reduce the so-called cut-on effect are evaluated. For that, the characteristics of a prototype instrument especially constructed to solve the cut-on problem are assessed and the properties of a new dynamic imaging mode examined in a theoretical study and by simulation. The applicability of the approach is demonstrated on beam-sensitive samples using the developed automation routines. Die Transmissionselektronenmikroskopie dient als essentielles Werkzeug der Strukturaufkl�rung biologischer und materialwissenschaftlicher Systeme. Ein Gro�teil der dort untersuchten Proben sind Phasenobjekte, d.h. ihre Interaktion mit der durchlaufenden Elektronenwelle bewirkt eine Phasen�nderung selbiger. Zur Sichtbarmachung dieses Signals werden in der konventionellen Transmissionselektronenmikroskopie Linsenaberrationen benutzt, wobei das entstehende Bild von entsprechenden Abbildungsfehlern behaftet ist. Phasenplattenmikroskopie bietet eine alternative M�glichkeit der Kontrasterzeugung, ohne dabei Linsenaberrationen zu ben�tigen. Jedoch verhindern sowohl die zur Anwendung notwendigen diffizilen Bedientechniken, als auch die gro�e Empfindlichkeit heutzutage verf�gbarer Phasenplattensysteme bisher einen routinem��igen Einsatz. In dieser Arbeit werden M�glichkeiten einer automatisierten Anwendung von Phasenplatten erarbeitet und deren Einsatzf�higkeit evaluiert. Der Fokus liegt hierbei auf der Begrenzung des sogenannten cut-on Effekts, welcher die Phasenkontrast�bertragung f�r kleine Ortsfrequenzen limitiert. Dazu werden zum einen die Eigenschaften eines eigens zur Behebung dieses Problems konstruierten Prototypenger�ts evaluiert, und zum anderen die Merkmale eines neuen, bisher nicht detailliert beschriebenen Abbildungsmodus theoretisch erarbeitet und seine praktische Anwendung auf strahlungsempfindlichen Proben unter Zuhilfenahme der entwickelten Automatisierungstechniken demonstriert. N� de r�f. du vendeur 9783736995628

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