Optical Long-baseline Interferometry - Couverture souple

Schuller, Peter A

 
9783836491709: Optical Long-baseline Interferometry

Synopsis

Dans la quête de regarder de plus près les objets astronomiques, l'interférométrie optique à longue base est devenue un outil standard pour les astronomes. Il peut atteindre des résolutions spatiales supérieures à celles du plus grand télescope. Offert dans les principaux observatoires où les instruments interférométriques fournissent une résolution spatiale élevée souvent combinée avec des informations spectrales, l'interférométrie optique à longue base permet l'étude détaillée des objets et des processus astronomiques dans leur environnement. L'auteur Peter A. Schuller introduit les concepts de base de l'interférométrie optique à longue base et utilise l'exemple d'une instruction particulière pour illustrer divers aspects dans le développement et le fonctionnement d'un interféromètre astronomique. L'accent est mis sur l'étalonnage de l'instrument aussi bien en laboratoire que lors des observations. Le potentiel de l'interférométrie astronomique est mis en évidence par une étude dans laquelle des données interférométriques sont utilisées pour contraindre des modèles informatiques d'objets astronomiques. Ce livre est destiné aux lecteurs ayant une certaine expérience en science et en ingénierie à la recherche d'une brève introduction à l'interférométrie optique à longue base dans le concept, la mise en œuvre et l'application.

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