XAS investigation de Films minces de SnO2 dop�s: Analyses in-situ des corr�lations entre la r�ponse �lectrique et le comportement des agr�gats m�talliques - Couverture souple

Gaidi, Mounir

9783838174242: XAS investigation de Films minces de SnO2 dop�s: Analyses in-situ des corr�lations entre la r�ponse �lectrique et le comportement des agr�gats m�talliques

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Editeur : Presses Acad�miques Francophones, 2014

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Nous avons analys� le r�le jou� dans les processus de d�tection, par des agr�gats m�talliques de Pt et de Pd dispers�s dans des films minces de SnO2 destin�s � la d�tection de gaz polluants r�ducteurs comme le CO, H2S ou NOx. L’�volution de l’�tat d’oxydation des agr�gats de platine a �t� suivie par Spectroscopie d’Absorption X (XAS) in situ. Lorsqu’elles sont incorpor�es en quantit� tr�s faible, les particules de platine changent, d’une fa�on r�versible, leur �tat d’oxydation, selon la nature de l’atmosph�re environnante. L’�tat d’oxydation des particules d�pend fortement de leur taille, (entre 0,5 et 4,5 nm) les plus petites passant d’un �tat compl�tement oxyd� � un �tat fortement r�duit -les liaisons Pt - O laissant place � des Pt - C lorsque les films sont en pr�sence de CO. L’�volution de la conductance �lectrique lorsque les films sont mis en pr�sence de CO a �t� corr�l�e � la rapidit� de la r�action de r�duction de platine. Une interaction �lectronique m�tal-SnO2 est � l’origine du pic de conductance observ� � basse temp�rature. Une �tude comparative des r�ponses �lectriques des couches platin�es et dop�es palladium, en pr�sence de CO, H2 et H2S, a permis de proposer diff�re

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� propos de l?auteur

Dr Mounir a re�u un dipl�me de DEA en sciences des mat�riaux de l'Universit� Joseph Fourier, en France, en 1995 et le doctorat en science des mat�riaux de l'Institut National Polytechnique de Grenoble, en 1999. l'int�r�t de la recherche de Dr Mounir est le d�veloppement d'une nouvelle g�n�ration de nano-cellules photovolta�ques.

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�diteur: Presses Acad�miques Francophones
Date d'�dition: 2014
Langue: fran�ais
ISBN 10: 3838174240
ISBN 13: 9783838174242
Reliure: Broch�
Nombre de pages: 264
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Nous avons analys� le r�le jou� dans les processus de d�tection, par des agr�gats m�talliques de Pt et de Pd dispers�s dans des films minces de SnO2 destin�s � la d�tection de gaz polluants r�ducteurs comme le CO, H2S ou NOx. L'�volution de l'�tat d'oxydation des agr�gats de platine a �t� suivie par Spectroscopie d'Absorption X (XAS) in situ. Lorsqu'elles sont incorpor�es en quantit� tr�s faible, les particules de platine changent, d'une fa�on r�versible, leur �tat d'oxydation, selon la nature de l'atmosph�re environnante. L'�tat d'oxydation des particules d�pend fortement de leur taille, (entre 0,5 et 4,5 nm) les plus petites passant d'un �tat compl�tement oxyd� � un �tat fortement r�duit -les liaisons Pt - O laissant place � des Pt - C lorsque les films sont en pr�sence de CO. L'�volution de la conductance �lectrique lorsque les films sont mis en pr�sence de CO a �t� corr�l�e � la rapidit� de la r�action de r�duction de platine. Une interaction �lectronique m�tal-SnO2 est � l'origine du pic de conductance observ� � basse temp�rature. Une �tude comparative des r�ponses �lectriques des couches platin�es et dop�es palladium, en pr�sence de CO, H2 et H2S, a permis de proposer diff�re 264 pp. Franz�sisch. N� de r�f. du vendeur 9783838174242

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