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Determinación de las dimensiones de objetos 3D usando luz estructurada: Métodos de la Transformada Rápida de Fourier y el Desplazamiento de Fase aplicadas a un patrón de franjas - Couverture souple

Sarmiento Pumarayme, Valentin Jorge

 
9783846579015: Determinación de las dimensiones de objetos 3D usando luz estructurada: Métodos de la Transformada Rápida de Fourier y el Desplazamiento de Fase aplicadas a un patrón de franjas
Couverture souple
ISBN 10 : 3846579017 ISBN 13 : 9783846579015
Editeur : Editorial Académica Española, 2011

Synopsis

En este trabajo se logra la reconstrucción de la superficie de objetos 3D así como la determinación de sus respectivas dimensiones. Para este propósito se utiliza un arreglo óptico que consiste de un proyector con una rejilla de Ronchi y una cámara CCD. Se proyecta la rejilla sobre un plano referencia en el que genera un patrón de franjas de periodo espacial conocido y se captura esta imagen (imagen portadora). Luego se proyecta la rejilla sobre la superficie del objeto bajo análisis y se captura esta nueva imagen del patrón de franjas modulado por la superficie del objeto (imagen modulante con portadora incluida). Posteriormente, se calcula la fase envuelta asociada con el patrón de franjas para cada imagen, usando el método del desplazamiento de fase o el método de la transformada rápida de Fourier. Luego, se restan las fases, obteniéndose la información de fase envuelta. A la información de fase envuelta se le aplica un algoritmo de desenvolvimiento y luego un algoritmo de conversión de fase a altura, logrando así la reconstrucción de la superficie del objeto y la obtención de sus respectivas dimensiones.

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Présentation de l'éditeur

En este trabajo se logra la reconstrucción de la superficie de objetos 3D así como la determinación de sus respectivas dimensiones. Para este propósito se utiliza un arreglo óptico que consiste de un proyector con una rejilla de Ronchi y una cámara CCD. Se proyecta la rejilla sobre un plano referencia en el que genera un patrón de franjas de periodo espacial conocido y se captura esta imagen (imagen portadora). Luego se proyecta la rejilla sobre la superficie del objeto bajo análisis y se captura esta nueva imagen del patrón de franjas modulado por la superficie del objeto (imagen modulante con portadora incluida). Posteriormente, se calcula la fase envuelta asociada con el patrón de franjas para cada imagen, usando el método del desplazamiento de fase o el método de la transformada rápida de Fourier. Luego, se restan las fases, obteniéndose la información de fase envuelta. A la información de fase envuelta se le aplica un algoritmo de desenvolvimiento y luego un algoritmo de conversión de fase a altura, logrando así la reconstrucción de la superficie del objeto y la obtención de sus respectivas dimensiones.

Biographie de l'auteur

Este trabajo fue presentado el año de 2002 para obtener el título de Ingeniero Electrónico en la Facultad Ciencias e Ingeniería de la Pontificia Universidad Católica del Perú.

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Éditeur
Editorial Académica Española
Date d'édition
2011
Langue
espagnol
ISBN 10 
3846579017
ISBN 13 
9783846579015
Reliure
Broché
Nombre de pages
144
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible