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Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -For the electronic and optoelectronic device realization a precise control of the electrical properties in the utilized material is a very important issue. Doping profiles in realized p-njunctions influence the functionality of the devices. The morphological and crystal properties of a device material directly influence the electrical ones. Dislocations present in a region of p-n-junctions can short circuit them leading to malfunctions. Too rough surfaces during epitaxial growth could lead to inhomogeneities in a single or multiple quantum wells and superlattices. 112 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783954040841
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Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy
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Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - For the electronic and optoelectronic device realization a precise control of the electrical properties in the utilized material is a very important issue. Doping profiles in realized p-njunctions influence the functionality of the devices. The morphological and crystal properties of a device material directly influence the electrical ones. Dislocations present in a region of p-n-junctions can short circuit them leading to malfunctions. Too rough surfaces during epitaxial growth could lead to inhomogeneities in a single or multiple quantum wells and superlattices. N° de réf. du vendeur 9783954040841
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Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy
Edité par
Cuvillier Verlag, 2012
ISBN 10 : 3954040840
ISBN 13 : 9783954040841
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnFor the electronic and optoelectronic device realization a precise control of the electrical properties in the utilized material is a very important issue. Doping profiles in realized p-njunctions influence the functionality of th. N° de réf. du vendeur 70581365
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Cuvillier, Cuvillier Apr 2012, 2012
ISBN 10 : 3954040840
ISBN 13 : 9783954040841
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -For the electronic and optoelectronic device realization a precise control of the electrical properties in the utilized material is a very important issue. Doping profiles in realized p-njunctions influence the functionality of the devices. The morphological and crystal properties of a device material directly influence the electrical ones. Dislocations present in a region of p-n-junctions can short circuit them leading to malfunctions. Too rough surfaces during epitaxial growth could lead to inhomogeneities in a single or multiple quantum wells and superlattices.Cuvillier Verlag, Nonnenstieg 8, 37075 Göttingen 112 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783954040841
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Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy
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Taschenbuch. Etat : Neu. Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy | Vladimir Petukhov | Taschenbuch | Englisch | 2012 | Cuvillier | EAN 9783954040841 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 104319225
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