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Synopsis
Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des "effets d'événement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des nœuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.
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Instruments de contrôle des radiations dans l'espace
Edité par
Editions Notre Savoir Okt 2022, 2022
ISBN 10 : 6205308916
ISBN 13 : 9786205308912
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables. 52 pp. Französisch. N° de réf. du vendeur 9786205308912
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Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables. N° de réf. du vendeur 9786205308912
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Instruments de contrôle des radiations dans l\ espace
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Editions Notre Savoir, 2022
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Editions Notre Savoir Okt 2022, 2022
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Taschenbuch
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des nuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Französisch. N° de réf. du vendeur 9786205308912
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Taschenbuch. Etat : Neu. Instruments de contrôle des radiations dans l'espace | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | Französisch | 2022 | Editions Notre Savoir | EAN 9786205308912 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 125762451
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