Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions - Couverture souple
Synopsis
This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.
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Controlling the aging of power transistors (Paperback)
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Our Knowledge Publishing, 2025
ISBN 10 : 6208939453
ISBN 13 : 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Our Knowledge Publishing, 2025
ISBN 10 : 6208939453
ISBN 13 : 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors
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ISBN 10 : 6208939453
ISBN 13 : 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors (Paperback)
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Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Our Knowledge Publishing, 2025
ISBN 10 : 6208939453
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Taschenbuch. Etat : Neu. Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions | Tarek Ben Salah (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Our Knowledge Publishing | EAN 9786208939458 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 133536863
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Controlling the aging of power transistors
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