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- ÉditeurScience Press Pub. Date :2008-03-01
- Date d'édition1991
- ISBN 10 7030205863
- ISBN 13 9787030205865
- ReliureHardcover
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micro-nano-MOS device reliability and failure mechanism(Chinese Edition)
Edité par
Science Press Pub. Date :2008-03-01, 1991
ISBN 10 : 7030205863
ISBN 13 : 9787030205865
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Hardcover. Etat : New. Language:Chinese.Author:HAO YUE LIU HONG XIA.Binding:HardCover.Publisher:Science Press Pub. Date :2008-03-01. N° de réf. du vendeur 844219
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