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原子探针显微学 ISBN 13 : 9787030474261

原子探针显微学 - Couverture souple

 
9787030474261: 原子探针显微学
Couverture souple
ISBN 10 : 7030474260 ISBN 13 : 9787030474261
Langue
chinois
ISBN 10 
7030474260
ISBN 13 
9787030474261
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Broché
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9787030474261: 原子探针显微学
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Baptiste . Gault DENG ZHU
ISBN 10 : 7030474260 ISBN 13 : 9787030474261
Neuf paperback

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paperback. Etat : New. Paperback. Pub Date: 2016-03-01 Pages: 326 Language: Chinese Publisher: science press co. LTD. the atom probe microscopy includes theoretical basis. practical aspects of atom probe and its application in material science three parts. first summarizes the development course of atom probe technology. introduces the prototype of atom probe field from. N° de réf. du vendeur DO040295

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