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Semiconductor Test Technology and Its Application(Chinese Edition)
Edité par
metallurgy Pub. Date :2006-11-01, 2000
ISBN 10 : 7502441018
ISBN 13 : 9787502441012
Neuf
paperback
Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chine
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
paperback. Etat : New. Language:Chinese.Publisher: metallurgy Pub. Date :2006-11 -01. The book is 11 chapters. Chapter 1 of the semiconductor micro-resistance measurement techniques are analyzed and compared various methods. the sheet resistance of domestic and international test methods are reviewed; Chapter 2 is a four-probe techniques to measure the sheet resistance analysis of the principle of the conventional straight-line four probe. an improved Vanderbilt Law and oblique style square Rymaszewski four-probe m. N° de réf. du vendeur H31815
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