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Electronics and Communication Engineering Series: semiconductor physics test(Chinese Edition)
Edité par
Harbin Institute of Technology Press, 2000
ISBN 10 : 7560336485
ISBN 13 : 9787560336480
Neuf
paperback
Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chine
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paperback. Etat : New. Paperback. Pub Date: 2012 08 Pages: 152 Language: Chinese in Publisher: Harbin Institute of Technology Electronics and Communication Engineering Series: semiconductor physics test analysis more comprehensive introduction to the basics of semiconductor physics test analysis. Mainly includes: the basic nature of the semiconductor; semiconductor impurity and defect levels. and silicon dislocations and stacking fault observed; statistical distribution of the carriers in the equilibrium state semi. N° de réf. du vendeur CD016326
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