Articles liés à 光电材料与器件...
Résultats de recherche pour 光电材料与器件...
Image fournie par le vendeur
Optoelectronic Materials and Devices. testing and evaluation techniques(Chinese Edition)
Edité par
Zhengzhou University Press, 2014
ISBN 10 : 7564514884
ISBN 13 : 9787564514884
Neuf
paperback
Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chine
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
paperback. Etat : New. Language:Chinese.Pub Date: 2014-09-01 Pages: 192 Publisher: Zhengzhou University Press Optoelectronic Materials and Devices. testing and evaluation technology. according to W. E. Three-step model proposed by photoemission of Spicer. a detailed analysis of NEAGaN photocathode excited photoelectrons from the body to transport surface to escape through the surface barrier. the whole process of vacuum derived photoelectron tunneling cathode surface barrier transmission coefficient. By solving the. N° de réf. du vendeur CQ063978
Acheter neuf
EUR 48,54
Expédition à EUR 16,04
Expédition depuis Chine vers Etats-Unis
Expédition depuis Chine vers Etats-Unis
Quantité disponible : 3 disponible(s)